逆反射測(cè)量?jī)x出現(xiàn)黑屏該怎么辦？

　　逆反射測(cè)量?jī)x黑屏是儀器設(shè)備的常見(jiàn)問(wèn)題，會(huì)影響正常工作。然而，這個(gè)問(wèn)題是不可避免的。那么，逆反射測(cè)量?jī)x出現(xiàn)黑屏該怎么辦呢？下面，讓我們一起了解一下吧。
　　1、確保包括逆反射測(cè)量?jī)x控制系統(tǒng)在內(nèi)的所有硬件都已正確通電。
　　2、檢查并確認(rèn)連接控制卡和HUB配電盤(pán)之間的芯線(xiàn)是否松動(dòng)或向后插入。
　　3、檢查又確認(rèn)連接逆反射標(biāo)志測(cè)試儀和主控卡的配電盤(pán)是否連接緊密并向后插入。
　　4、如果逆反射測(cè)量?jī)x的接口定義與提供的HUB板不匹配，將出現(xiàn)黑屏。重新檢查跳線(xiàn)是否松動(dòng)、開(kāi)路或短路。
　　5、重復(fù)檢查操作，確認(rèn)用于連接逆反射測(cè)量?jī)x控制器的串行電纜是否松動(dòng)或脫落。如果在加載過(guò)程中變黑，可能是由于工作過(guò)程中相關(guān)線(xiàn)路松動(dòng)導(dǎo)致中斷，導(dǎo)致儀器黑屏。

　　用戶(hù)可以判斷逆反射測(cè)量?jī)x微棱鏡標(biāo)志的反光膜材料是否粘貼正確，配置的伸縮光圈可以測(cè)量路標(biāo)上的小字符和符號(hào)。儀器采用梯度折射率高硬度鍍膜技術(shù)，傳感器響應(yīng)滿(mǎn)足ASTM  1709和CIE人眼響應(yīng)及A光源要求。逆反射測(cè)量?jī)x采用高精度、靈敏耐用的濾光片，結(jié)合點(diǎn)光環(huán)的幾何形狀，可測(cè)量所有顏色和類(lèi)型的反光膜，獲得實(shí)驗(yàn)室測(cè)量結(jié)果；具有自動(dòng)雜散光補(bǔ)償功能，使測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性不會(huì)受到白天測(cè)量或其他光源的影響；可安裝內(nèi)置高精度WAAS  GPS、藍(lán)牙、RFID標(biāo)簽閱讀器，實(shí)現(xiàn)更多準(zhǔn)確定位、無(wú)線(xiàn)傳輸、資產(chǎn)管理功能；逆反射測(cè)量?jī)x的內(nèi)部存儲(chǔ)器可以存儲(chǔ)25萬(wàn)條記錄。RSC軟件通過(guò)USB端口下載數(shù)據(jù)，并生成EXCEL或谷歌地圖等報(bào)告。

　　綜上所述，如果使用中經(jīng)常出現(xiàn)問(wèn)題，會(huì)影響設(shè)備的使用壽命。因此，在使用逆反射測(cè)量?jī)x時(shí)，建議所有相關(guān)工作都在檢查進(jìn)行，以避免出現(xiàn)影響使用工作的問(wèn)題。
小編：Chihiro